Electromigration; Flip Chip; Packaging; Lead-free; Ceramic substrate;
机译:在钝化金属薄膜和倒装芯片焊点中,由毛细管,电迁移和稳态热流引起的热应力梯度驱动的表面漂移扩散会导致空隙的形态演化。 Ⅰ。理论
机译:钝化金属薄膜和倒装芯片焊点中由毛细管驱动的表面漂移扩散,电迁移和稳态热流引起的热应力梯度引起的空隙形态演变。 Ⅱ。应用领域
机译:NiP / Cu金属化上的无铅焊料倒装凸块的电迁移行为
机译:在薄膜陶瓷基板上的40μm或30μm直径的倒装芯片无铅焊料连接中的电迁移研究
机译:无铅倒装芯片焊点中电迁移引起的失效的统计和物理分析
机译:基于离散空隙形成的倒装芯片焊点失效的电迁移机理
机译:使用au-pt-pd厚膜导体在低温共烧陶瓷(LTCC)基板上分析细间距倒装焊料互连的拉伸强度行为。
机译:利用au-pt-pd厚膜导体在低温共烧陶瓷(LTCC)基板上分析细间距,倒装芯片焊料互连的拉伸强度行为