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KoichiTakakura;
中国电子学会中国航空学会;
薄膜晶体;
机译:铝导体中电迁移引起的应力产生的脉冲电流占空比依赖性
机译:脉冲电流条件下铝薄膜中的电迁移
机译:细线铝0.5%铜薄膜导体中的边缘位移引起的电迁移引起的故障
机译:Ba-NB-O添加的Re123在薄膜中的膜形成温度取决于薄膜的膜形成温度与局部临界电流密度分布的关系
机译:研究二氧化硅中陷阱的产生以及铝薄膜中的电迁移。
机译:超声喷雾热解法形成铟掺杂氧化锌薄膜的研究:气溶胶溶液中水分的含量和基质温度对提高电迁移的重要性
机译:不断发展的微观结构:受应力的铝 - 铜和铜薄膜中的电迁移机制
机译:不断发展的微观结构:受应力的铝 - 铜和铜薄膜中的电迁移机制。
机译:确定母线耦合线的电流感生温度涉及先行的,母线温度在定义范围内的测量,以产生函数关系,并使用关系式从母线温度获取线温度
机译:金薄膜导体中的电迁移电阻
机译:基于电池电压和电池组电流测量以及基于功率逆变器给出的信号的电池阻抗与温度的关系,测量锂离子电池系统中的电池温度和退化
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