Nanyang Institute of Technology, Nanyang, Henan, China, 473004;
机译:平稳的地壳速度模型导致2D动态破裂模拟中的土壤高频地面动作枯竭
机译:深亚微米全耗尽SOI CMOS晶体管的阈值电压模型,包括源/漏边缘场对掩埋氧化物的影响
机译:SOI初始材料质量对部分耗尽的浮体SOI MOSFET的低频噪声特性的影响
机译:深度耗尽SOI BJMOSFET的深度亚微米频率特性的建模与仿真
机译:佛罗里达鲨鱼河口红树林发展的景观格局和土壤特征的生态分析和模拟模型。
机译:低压住宅设备的高频输入阻抗建模-对雷电过电压仿真结果的影响
机译:平滑的地壳速度模型导致2-D动态破裂模拟中的土壤中的高频地面动作枯竭
机译:深亚微米全耗尽sOImOsFET的DLTs和动态跨导分析