首页> 外文会议>Miroelectronic Processes, Sensors, and Controls >Application of RTA to a 0.8-um BiCMOS process
【24h】

Application of RTA to a 0.8-um BiCMOS process

机译:RTA在0.8um BiCMOS工艺中的应用

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

Abstract: RTA has been established as a key process element in asub-micron BiCMOS flow. The major advantage of RTA isthat a temperature pulse $GRT 1000$DGR@C can be used tobreak-up the interfacial oxide in the polysiliconemitter contact to provide enhanced current gain withlow-emitter resistance but with little impact on theCMOS. The RTA emitter anneal also serves tosimultaneously flow BPSG to planarize the wafer priorto metallization. Contact reflow is also advantageousfor a tapered structure to improve metalstep-coverage.!12
机译:摘要:RTA已被确立为亚微米BiCMOS流程中的关键工艺元素。 RTA的主要优点是可以使用温度脉冲$ GRT 1000 $ DGR @ C来破坏多晶硅发射极触点中的界面氧化物,以提供增强的电流增益和低发射极电阻,但对CMOS的影响很小。 RTA发射极退火还用于使BPSG同时流动,以在金属化之前将晶片平面化。接触回流对于锥形结构改善金属台阶覆盖率也是有利的。12

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号