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BiCMOS工艺中VNPN晶体管的优化设计

         

摘要

BiCMOS工艺对晶体管的工艺条件设计提出了更高的要求.结合实际BiCMOS工艺,借助专业TCAD模拟软件ISE,模拟了晶体管基区注入和退火等工艺条件对VNPN晶体管的电流增益β和击穿电压BVCEO的影响,给出了优化的设计方案.在线流片结果表明优化后:晶体管β=47,[BV]CEO=9.5 V,达到了低频功率晶体管的应用要求,同时保证了BiCMOS工艺中的CMOS器件性能不变,并且工艺稳定可在线量产.因此这种优化设计是可取的.

著录项

  • 来源
    《电子器件》 |2008年第2期|488-491|共4页
  • 作者单位

    东南大学,国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096;

    东南大学,国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096;

    东南大学,国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096;

    东南大学,国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 场效应型;
  • 关键词

    BiCMOS; VNPN; β; BVCEO; TCAD;

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