首页> 中国专利> 绝缘体上的硅(SOI)衬底的制造工艺

绝缘体上的硅(SOI)衬底的制造工艺

摘要

一种SOI衬底的制造工艺有效地除去在多孔硅区上的非多孔硅区,并解决了玻璃衬底刻蚀时不可避免的问题和需要较厚的多孔硅区的问题。该工艺包括:使单晶硅衬底的表面层成为多孔以形成多孔单晶硅区;在多孔单晶硅区的表面上形成第二非多孔单晶硅区;将支撑衬底通过绝缘区键合到第二非多孔单晶硅区的表面;除去第一非多孔单晶硅区;以及除去多孔单晶硅区,其中除去第一非多孔单晶硅区包括进行干法刻蚀的步骤,在该干法刻蚀中非多孔单晶硅区的刻蚀速率大于多孔单晶硅区的刻蚀速率。

著录项

  • 公开/公告号CN1076862C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2001-12-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 佳能株式会社;

    申请/专利号CN96121530.5

  • 发明设计人 阿闭忠司;

    申请日1996-12-12

  • 分类号H01L21/20;H01L21/3065;

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人王以平

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2022-08-23 08:55:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-02-10

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2001-12-26

    授权

    授权

  • 1997-07-30

    公开

    公开

  • 1997-07-02

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号