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应用侧壁及去除技术制做亚微米掩模窗口的方法

摘要

一种用于在基底中制做窗口的方法,利用反应离子刻蚀技术,在基底上形成台面。在整个结构上淀积一膜层,并且将台面有选择地刻蚀掉,以在膜层中形成亚微米尺寸的窗口。用膜层作掩模,被掩模所露出的基底被反应离子蚀刻。给出了制做多晶硅基区双极性晶体管的发射区掩模的例子。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 1988-06-29

    审定

    审定

  • 1987-09-16

    实质审查请求

    实质审查请求

  • 1987-08-19

    公开

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