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一种塑封SoC器件的快速质量一致性检验方法

摘要

本发明公开了一种塑封SoC器件的快速质量一致性检验方法,主要包括三部分内容:塑封SoC器件快速质量一致性检验的基本要求,如含试验设备、检验批等;塑封SoC器件快速质量一致性检验中的样本要求、不合格品处理要求及电特性要求;塑封SoC器件快速质量一致性检验项目的分组及试验条件的制定。本发明为塑封SoC器件的快速质量一致性检验提供了新的方法,为塑封SoC器件的可靠使用与有效管理提供了新的途径。

著录项

  • 公开/公告号CN110426570B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京遥感设备研究所;

    申请/专利号CN201910633978.4

  • 发明设计人 刁胜龙;韩洤;吕瑛;

    申请日2019-07-15

  • 分类号G01R31/00(20060101);G01M13/00(20190101);

  • 代理机构11024 中国航天科工集团公司专利中心;

  • 代理人葛鹏

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路51号

  • 入库时间 2022-08-23 12:40:19

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