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用于电子和空穴迁移率增强的双鳍集成

摘要

提供了一种用于形成半导体器件的技术。在半导体层上的硬掩模层之上形成牺牲芯棒。在牺牲芯棒的侧壁上形成间隔体。移除牺牲芯棒以留下间隔体。掩模工艺留下暴露的间隔体的第一组,第二组被保护。响应于掩模工艺,第一鳍蚀刻工艺经由间隔体的第一组在半导体层中形成鳍的第一组。鳍的第一组具有垂直的侧壁轮廓。另一个掩模工艺留下暴露的间隔体的第二组,间隔体的第一组和鳍的第一组被保护。响应于其他的掩模工艺,第二鳍蚀刻工艺使用间隔体的第二组在半导体层中形成鳍的第二组。鳍的第二组具有梯形的侧壁轮廓。

著录项

  • 公开/公告号CN107251204B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海佑磁信息科技有限公司;

    申请/专利号CN201680011417.5

  • 申请日2016-02-17

  • 分类号H01L21/336(20060101);H01L21/265(20060101);H01L27/092(20060101);H01L29/04(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人邱军

  • 地址 200135 上海市浦东新区南汇新城镇芦安路116号201室

  • 入库时间 2022-08-23 12:25:42

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