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LDMOS器件的制作方法、LDMOS器件

摘要

本申请公开了一种LDMOS器件的制作方法、LDMOS器件,涉及半导体制造技术领域。该方法包括提供一衬底,在衬底上制作体区和漂移区;在体区内制作体接触区和源区,在漂移区内制作漏区;体接触区和源区之间有浅沟槽隔离;在衬底表面制作栅极;沉积层间介质层;在层间介质层制作接触孔和矩形槽阵列;接触孔与体接触区、源区、漏区、栅极分别连接,矩形槽阵列位于漂移区的上方;其中,矩形槽阵列包括若干个矩形槽,矩形槽的开口宽度小于接触孔的开口宽度,矩形槽的开口宽度逐渐减小;解决了传统的LDMOS器件的击穿电压受到器件尺寸的限制的问题;达到了提高LDMOS器件的击穿电压和可靠性的效果。

著录项

  • 公开/公告号CN111180339B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华虹半导体(无锡)有限公司;

    申请/专利号CN201911324379.0

  • 发明设计人 刘俊文;陈华伦;陈瑜;

    申请日2019-12-20

  • 分类号H01L21/336(20060101);H01L29/78(20060101);H01L29/40(20060101);

  • 代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人罗雅文

  • 地址 214028 江苏省无锡市新吴区新洲路30号

  • 入库时间 2022-08-23 12:21:23

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