公开/公告号CN105448350B
专利类型发明专利
公开/公告日2019-08-27
原文格式PDF
申请/专利权人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;
申请/专利号CN201410437349.1
申请日2014-08-29
分类号G11C29/56(20060101);G11C11/413(20060101);
代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;
代理人高静;骆苏华
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号
入库时间 2022-08-23 10:39:17
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-08-27
授权
授权
2016-04-27
实质审查的生效 IPC(主分类):G11C29/56 申请日:20140829
实质审查的生效
2016-04-27
实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20140829
实质审查的生效
2016-03-30
公开
公开
2016-03-30
公开
公开
机译: 用于检测弱电池的SRAM测试方法和SRAM测试装置
机译: 用于检测弱单元的SRAM测试方法和SRAM测试装置
机译: 用于检测弱单元的sram及sram测试装置测试方法