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拜福君; 段会福; 付妮; 李晓骏;
西安紫光国芯半导体有限公司;
SRAM; 读取时间; 自测试;
机译:具有位线功耗降低和访问时间增强的SRAM单元单端读取端口的感应电路
机译:6T SRAMS中读取恢复动态故障的研究及缩短测试时间的方法
机译:一种新颖的基于SRAM的间接读取技术,具有充电循环和差分读取的能力,可实现低功耗,高稳定性和高性能
机译:一种基于TCBF分类器的全差分OP-AMP的模拟电路自测自测试方法
机译:一种自驱动测试方法,用于对时序电路进行内置自测试。
机译:一种新颖且定义明确的基准测试方法用于第二代读取映射
机译:一种具有实时和存储时间模拟读取信息的变容数字计算机,用于微调现象的深空调查中的EsE信息
机译:存储器自测试电路,包括该存储器的半导体器件和集成电路卡以及存储器自测试方法
机译:装有相同和集成电路卡的存储器自测试电路和半导体器件以及存储器自测试方法
机译:复合半导体存储器的自测试电路及使用该电路的自测试方法
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