一种基于SRAM的FPGA输入输出模块测试方法的研究

摘要

针对传统FPGA输入输出模块(IOB)测试效率低下的问题,提出一种基于边界扫描控制IOB管脚进行激励的施加和响应的回收的方法.并针对FPGA特有的具备良好的可重复性的优势,设计适合该结构的算法,使得对FPGA的IOB管脚测试的效率大大提高,以及测试复杂度的大幅度降低,提高了FPGA测试速度和可靠性,降低测试成本,与传统的自动测试仪(ATE)相比具有很高的性价比.以Virtex XCV300系列的FPGA为实验,采用5次配置实现对IOB的全覆盖测试,并能够实现精确的故障定位和诊断.