机译:使用片上电流传感器针对FinFET SRAM中的电阻性缺陷的面向缺陷的测试方法
机译:在电阻缺陷存在下比较电源电压对基于CMOS和FinFET的SRAM的影响
机译:评估温度对电阻缺陷的基于FinFET的动态故障行为的影响
机译:动态电源电流测试,用于CMOS SRAM中的开路缺陷
机译:基于片上电流传感器和邻域比较逻辑的技术来检测SRAM中的电阻性开路缺陷
机译:二维触发器同步器的面向缺陷的故障分析及其测试方法。
机译:新型电阻应变传感器方法在有关大型球形储罐结构使用寿命和压力测试过程中的行为的实验和理论研究中的应用
机译:评价电离颗粒对弱电缺损的基于FinFET的影响