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含有硅通孔热应力电路的静态时序分析方法

摘要

本发明属于涉及含有硅通孔热应力电路的静态时序分析方法,其包括以下步骤:(1)确定电路中所使用的硅通孔类型;(2)从电路中提取硅通孔各层材料和晶体管的物理参数;(3)利用应力的数学模型,得到圆柱坐标系下的单个硅通孔各层材料的径向应力和环向应力;(4)求解应力表达式中各系数的边界条件;(5)将圆柱坐标系下的应力转换到笛卡尔坐标系下的应力;(6)根据线性叠加准则得到由多个硅通孔引起的总的热应力分布;(7)计算不同沟道方向下的载流子迁移率变化的影响;(8)将载流子迁移率的变化添加到电路的门级网表中,在时序约束条件下,运行PrimeTime进行静态时序分析,得到电路的最长路径延时和时序裕量变化情况。

著录项

  • 公开/公告号CN104965955B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201510416517.3

  • 发明设计人 董刚;刘荡;杨银堂;

    申请日2015-07-15

  • 分类号

  • 代理机构北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郭官厚

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2022-08-23 10:04:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-08

    授权

    授权

  • 2015-11-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20150715

    实质审查的生效

  • 2015-10-07

    公开

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