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公开/公告号CN208239321U
专利类型实用新型
公开/公告日2018-12-14
原文格式PDF
申请/专利权人 西北核技术研究所;
申请/专利号CN201820899725.2
发明设计人 刘旭;马戈;黑东炜;夏惊涛;盛亮;裴明敬;魏福利;徐海斌;罗剑辉;唐波;
申请日2018-06-11
分类号
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司;
代理人倪金荣
地址 710024 陕西省西安市灞桥区平峪路28号
入库时间 2022-08-22 07:25:42
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-12-14
授权
机译: 薄层例如油漆层,厚度和/或质量缺陷,例如机动车的涂层部件,涉及在相当的温度和层组成下比较测量值与参考测量值
机译: 通过x射线荧光测量薄层厚度的方法和设备
机译:用固体参考样品测量薄层厚度薄层厚度
机译:铜和镍纳米层的厚度测定:完全无参考的基于基本参数的X射线荧光分析和X射线反射仪的比较
机译:用X射线荧光测量印刷电路板上的金和钯薄层的层厚度
机译:薄层厚度对CLT外平面方向弯曲性能的影响 - 薄层厚度小于或等于厚度的情况 -
机译:使用基于X射线荧光光谱的新型仪器对环境和临床材料进行微量元素分析:公共卫生实验室的新功能。
机译:基于同步加速器的X射线荧光显微镜作为植物中元素成像的技术
机译:以双X线骨密度仪为参考,建立老年女性骨质疏松和骨质疏松厚度的人体脂肪方程。通过双射线发射的参考吸收的teniendo皮肤褶皱的厚度X使用双能X射线吸收测定法作为参考,通过皮肤褶皱厚度测量骨质疏松症或骨质减少的老年女性的体脂质量的方程式的发展
机译:用于act系元素和重元素溶液浓度测量的K-Edge X射线荧光分析