机译:铜和镍纳米层的厚度测定:完全无参考的基于基本参数的X射线荧光分析和X射线反射仪的比较
Nanolayer thickness determination; X-ray fluorescence analysis; X-ray reflectometry; Atomic fundamental parameters; Synchrotron radiation;
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机译:两种半绝对方法的比较:k(0)-仪器中子活化分析和基本参数方法X射线荧光光谱法用于镍基合金
机译:比较全参数X射线荧光光谱和痕量元素测定的基本参数方法的性能与经验量化程序的比较
机译:同步辐射的无参X射线荧光分析表征高k纳米层
机译:一种使用基本参数进行定量能量色散X射线荧光分析的通用方法。
机译:MA-XRF分析中的差分X射线衰减用于无创确定镀金厚度
机译:能量色散X射线荧光光谱法测定液态化学废料中的铬,铁,钴,镍,铜,锌,砷和铅
机译:mo,Cu,Ni,mn,Cr和V低合金钢的X射线荧光分析