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基于全反射X射线荧光分析的元素检测方法

摘要

本发明涉及一种基于全反射X射线荧光分析的元素检测方法,包括如下步骤:获取待测样品,于所述待测样品中加入溶剂制成待测样品溶液;于所述待测样品溶液中加入内标液,得待测液;所述内标液包括浓度为50~150mg/L的钇元素;将所述待测液滴加至载样片上,干燥成膜,然后利用全反射X射线荧光光谱仪进行检测,即可。上述元素检测方法,利用TXRF作为检测方法的同时,将包含一定浓度钇元素的溶液以内标液的形式加入待测样品溶液中,由此校正被测元素的峰面积变化,经过修正算法,可以给TXRF仪的测试带来良好的线性度,相应的也可以消除环境因素的干扰,使最终测试结果的精确度大大提升,尤其适用于土壤或污水中痕量元素的检测。

著录项

  • 公开/公告号CN106248710B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广州市怡文环境科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201610814665.5

  • 发明设计人 石平;徐剑飞;

    申请日2016-09-09

  • 分类号G01N23/223(20060101);

  • 代理机构44224 广州华进联合专利商标代理有限公司;

  • 代理人万志香

  • 地址 510730 广东省广州市经济技术开发区南云三路12号

  • 入库时间 2022-08-23 10:26:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-26

    授权

    授权

  • 2017-01-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20160909

    实质审查的生效

  • 2017-01-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20160909

    实质审查的生效

  • 2016-12-21

    公开

    公开

  • 2016-12-21

    公开

    公开

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