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X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD, X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS PROGRAM, AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

机译:X射线荧光分析方法,X射线荧光分析程序和X射线荧光光谱仪

摘要

An X-ray fluorescence analysis method according to an FP method uses a predefined theoretical intensity formula in a standard sample theoretical intensity calculation step for obtaining a sensitivity constant and in an unknown sample theoretical intensity calculation step during iterative calculation. In the formula, only in an absorption term relating to absorption of X-rays, a mass fraction of each component is normalized so that a sum of the mass fractions of all components becomes 1.
机译:根据FP方法的X射线荧光分析方法在标准样本理论强度计算步骤中使用预定的理论强度公式,用于获得迭代计算期间的敏感性恒定和未知的样本理论强度计算步骤。在公式中,仅在与X射线的吸收有关的吸收项中,每个组分的质量分数归一化,使得所有组分的质量分数的总和变为1。

著录项

  • 公开/公告号EP3598116B1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-07-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号EP20180767402

  • 发明设计人 KATAOKA YOSHIYUKI;KAWAKYU KOSUKE;

    申请日2018-03-14

  • 分类号G01N23/223;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-24 20:02:37

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