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X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD, X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS PROGRAM, AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

机译:X射线荧光分析方法,X射线荧光分析程序和X射线荧光光谱仪

摘要

In an X-ray fluorescence analysis method employing a fundamental parameter (FP) method, in a prescribed theoretical intensity formula used in a reference sample theoretical intensity calculation step for obtaining a sensitivity constant, and an unknown sample theoretical intensity calculation step in an iterative calculation, the concentration ratios of each component are standardized in such a way that the total of the concentration ratios of all the components is 1, only with regard to an absorption term relating to absorption of X-rays.
机译:在使用基本参数(FP)方法的X射线荧光分析方法中,在用于获得灵敏度常数的参考样品理论强度计算步骤中使用的规定理论强度公式中,以及在迭代计算中未知样品理论强度计算步骤中使用因此,仅关于与X射线的吸收有关的吸收项,将各成分的浓度比标准化为所有成分的浓度比的合计为1。

著录项

  • 公开/公告号WO2018168939A8

    专利类型

  • 公开/公告日2019-08-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RIGAKU CORPORATION;

    申请/专利号WO2018JP10004

  • 发明设计人 KATAOKA YOSHIYUKI;KAWAKYU KOSUKE;

    申请日2018-03-14

  • 分类号G01N23/223;G01N23/207;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 11:58:11

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