X射线荧光吸收法测量薄层厚度的尝试

摘要

当特征X射线能量较小时,吸收曲线在薄层范围内斜率很大。利用这一特点来测定薄层吸收体的厚度具有很高的灵敏度。文章阐述了这一方法的原理、计算方法和实验技术。实验数据证实了有关理论分析的正确性和可行性。