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机译:通过x射线荧光测量薄层厚度的方法和设备
公开/公告号GB2323164B
专利类型
公开/公告日2001-01-03
原文格式PDF
申请/专利权人 * HELMUT FISCHER GMBH & CO INSTITUT FUER ELECTRONIK UND MESSTECHNIK;
申请/专利号GB19980004940
发明设计人 KARL-HEINZ * KAISER;VOLKER * ROESIGER;
申请日1998-03-10
分类号G01N23/223;G01B15/02;
国家 GB
入库时间 2022-08-22 01:05:43
机译: X射线荧光法测量薄层厚度的方法和装置
机译: 用于通过x射线荧光测量薄层的厚度的装置
机译: 荧光X射线薄层厚度测量装置