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敖奇; 曹利国; 丁益民;
北卡洛莱纳州立大学;
成都理工学院;
薄层厚度测量; 镀层厚度测量; X射线荧光方法; 表层X射线荧光计数率法; 底层X射线荧光吸收法;
机译:在采用库仑计测定电镀层厚度的溶液中的某些电镀层的电化学特性I:镍镀层的特性
机译:X射线荧光法测定钢表面铝涂层的厚度。
机译:通过放牧入射X射线荧光测定旋转阀中铜层厚度的测定
机译:ITO薄膜的晶粒尺寸和厚度对薄层电阻和透射率的影响:TEM研究
机译:中国健康受试者的中央薄层中央薄层厚度深度和椎前组织的年龄相关变化
机译:使用X射线荧光光谱涂层厚度测定:Monte Carlo模拟作为使用标准的替代方案
机译:用于测量涂层厚度的X射线荧光技术
机译:镀层厚度计及镀层厚度测定方法
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