一种用于双面引脚阵列半导体芯片的测试插座

摘要

本实用新型公开了一种用于双面引脚阵列半导体芯片的测试插座，包括测试主板、主测试插座探针定位板、主测试插座探针保持板、主测试插座弹簧测试探针、被测半导体芯片、上测试插座探针定位板、上测试插座探针保持板、上测试插座弹簧测试探针、测试用存储芯片和压块。本实用新型是在传统的测试座的基础上，通过增加上测试插座，构建一种新的测试架构，从而完成双面引脚阵列半导体芯片的系统测试，满足双面引脚阵列半导体芯片新型封装技术的需要。