首页> 中国专利> 一种硅衬底上3C碳化硅材料外延生长方法

一种硅衬底上3C碳化硅材料外延生长方法

摘要

本发明公开了一种硅衬底上3C碳化硅材料外延生长方法,选择商业化的硅衬底并清洗;在硅衬底正面涂覆光刻胶,经光刻、显影、坚膜后刻蚀以形成刻蚀道;沉积SiO2填充刻蚀道,并使晶片表面平坦化;使用H2气体高温刻蚀硅衬底结构表面,去除晶片表面损伤层;在外延炉中通入H2气体为载气,并通入碳源气体,对衬底表面进行碳化;在外延炉中通入H2气体为载气,通入硅源气体、碳源气体及掺杂气体,并在高温下反应生成3C碳化硅。本发明相比于传统的4H碳化硅同质外延,在外延生长前预先在硅衬底上形成应力释放结构,降低了外延生长过程中由于晶格失配及热膨胀失配带来的缺陷、孔洞和碎片等问题。

著录项

  • 公开/公告号CN114038733A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 基本半导体(南京)有限公司;

    申请/专利号CN202111118759.6

  • 申请日2021-09-24

  • 分类号H01L21/02(20060101);C23C16/32(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 210000 江苏省南京市浦口区桥林街道步月路29号12幢-424

  • 入库时间 2023-06-19 14:09:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 专利申请号:2021111187596 申请日:20210924

    实质审查的生效

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号