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一种槽栅中具有空穴通路的屏蔽栅沟槽IGBT结构

摘要

本发明涉及一种槽栅中具有空穴通路的屏蔽栅沟槽IGBT结构,属于功率半导体器件技术领域。本发明基于SGT IGBT器件的宽槽结构,在宽槽中的屏蔽栅极上层设置两个左右对称的控制栅极,同时屏蔽栅极会在两栅极之间引出,并与器件的发射极相连,从而形成空穴通路。在器件处于开态时,空穴通路被夹断使屏蔽栅极浮空,漂移区可以积累大量的载流子,从而降低器件的导通压降;在器件处于关态时,空穴通路使屏蔽栅极和金属发射极相连,实现屏蔽栅极对栅极和集电极之间的屏蔽作用,优化了器件的开关特性。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-06-02

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L29/739 专利申请号:2021107069328 申请公布日:20210921

    发明专利申请公布后的驳回

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