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一种低封装厚度的板级扇出型MOSFET器件及其制作方法

摘要

本发明公开了一种低封装厚度的板级扇出型MOSFET器件及其制作方法,其中,方法包括以下步骤:在载板上设置临时键合胶层,并在临时键合胶层上设置MOSFET芯片和互通铜柱;在临时键合胶层上设置第一塑封层;拆除载板和临时键合胶层;在第一塑封层上设置介电材质层,并在介电材质层制作重布线层;在第一塑封层另一面上通过引线键合连接MOSFET芯片的衬底和互通铜柱;在第一塑封层上设置第二塑封层。本申请实施例的制作方法通过互通铜柱、重布线层、引线实现MOSFET芯片线层连接以构成MOSFET器件所需的PN结,使得引线无需采用大弧度绕线的方式规避MOSFET芯片外端,令引线设置高度更低、弧度更小,从而减少了MOSFET器件的封装厚度。

著录项

  • 公开/公告号CN113192854A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 季华实验室;

    申请/专利号CN202110628744.8

  • 申请日2021-06-07

  • 分类号H01L21/56(20060101);H01L21/60(20060101);H01L23/31(20060101);H01L23/48(20060101);H01L23/498(20060101);H01L29/78(20060101);

  • 代理机构44377 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人陈志超

  • 地址 528200 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号

  • 入库时间 2023-06-19 12:02:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-10-27

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L21/56 专利申请号:2021106287448 申请公布日:20210730

    发明专利申请公布后的驳回

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