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提高多栅晶体管中厚栅介质层性能的方法

摘要

本发明提供一种提高多栅晶体管中厚栅介质层性能的方法,所述多栅晶体管包括至少两个栅介质层,其中厚栅介质层是一次生长形成的,避免厚栅介质层多次生长过程中引起的厚栅介质层性能降低。

著录项

  • 公开/公告号CN111916465A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 格科微电子(上海)有限公司;

    申请/专利号CN201910378031.3

  • 发明设计人 李文强;

    申请日2019-05-08

  • 分类号H01L27/146(20060101);H01L21/28(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江盛夏路560号2号楼11层

  • 入库时间 2023-06-19 08:50:28

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