首页> 中国专利> 芯片封装体及其制造方法和操作方法以及芯片封装系统

芯片封装体及其制造方法和操作方法以及芯片封装系统

摘要

公开了一种芯片封装体、一种芯片封装系统、一种制造芯片封装体的方法和一种操作芯片封装体的方法,所述芯片封装体包括:被构造成测量最大为最大磁场值的磁场分量的第一传感器;被构造成测量超过最大磁场值的磁场分量的第二传感器;以及藕接到第一传感器和第二传感器且被构造成从第一传感器和第二传感器中的至少一个接收至少一个传感器信号的电路,其中,所述电路被进一步构造成基于接收到的传感器信号选择第一传感器或第二传感器来测量磁场分量。

著录项

  • 公开/公告号CN107479008A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英飞凌科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201710427565.1

  • 发明设计人 M·哈兰特;G·克泽尔;R·M·沙勒;

    申请日2017-06-08

  • 分类号

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人周家新

  • 地址 德国瑙伊比贝尔格市

  • 入库时间 2023-06-19 04:02:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R33/00 申请日:20170608

    实质审查的生效

  • 2017-12-15

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号