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高击穿电压的氮化镓高电子迁移率晶体管及其形成方法

摘要

一种具有高击穿电压的氮化镓高电子迁移率晶体管及其形成方法,所述高电子迁移率晶体管包括:衬底;位于所述衬底上的氮化镓沟道层;位于所述氮化镓沟道层上的第一势垒层;位于所述第一势垒层上的栅极、源极和漏极,所述源极和漏极分别位于所述栅极的两侧;位于所述栅极与漏极之间的第一势垒层表面的第二势垒层,所述第二势垒层侧壁与所述栅极一侧侧壁连接,用于产生二维空穴气。上述高电子迁移率晶体管具有更高的击穿电压。

著录项

  • 公开/公告号CN106876443A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-06-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海新傲科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201710122935.0

  • 申请日2017-03-03

  • 分类号H01L29/06(20060101);H01L29/778(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构31294 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人孙佳胤

  • 地址 201821 上海市嘉定区普惠路200号

  • 入库时间 2023-06-19 02:37:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/06 申请日:20170303

    实质审查的生效

  • 2017-06-20

    公开

    公开

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