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利用虚拟存储单元改善电荷陷阱存储器阵列中的数据可靠性的非易失性存储器件

摘要

本发明提供一种利用虚拟存储单元改善电荷陷阱存储器阵列中的数据可靠性的非易失性存储器件。一种电荷陷阱闪速存储器件,包括闪速存储器阵列,该闪速存储器阵列中至少具有电荷陷阱存储单元的第一页面,该第一页面被电耦合至第一字线。所述电荷陷阱存储单元的第一页面包括多个可寻址存储单元和多个紧邻的不可寻址“虚拟”存储单元,其中,所述可寻址存储单元被配置为用来存储在读取操作期间待检索的数据,所述不可寻址虚拟存储单元被配置为用来存储在读取操作期间不可检索的虚拟数据。所述多个虚拟存储单元包括至少一个辅助虚拟存储单元,该辅助虚拟存储单元被用作抵抗所述阵列的电荷陷阱层中的侧孔传递的缓冲器。

著录项

  • 公开/公告号CN101465353A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-06-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN200810185638.1

  • 发明设计人 薛钟善;申有哲;沈载星;

    申请日2008-12-17

  • 分类号H01L27/115(20060101);

  • 代理机构11219 中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人刘光明;穆德骏

  • 地址 韩国京畿道水原市灵通区梅滩洞416番地

  • 入库时间 2023-12-17 22:10:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-05-23

    授权

    授权

  • 2011-02-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/115 申请日:20081217

    实质审查的生效

  • 2009-06-24

    公开

    公开

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