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一种基于银基键合丝的半导体键合工艺

摘要

本发明属于半导体封装技术领域,具体公开了一种基于银基键合丝的半导体键合工艺,所述工艺使用银基键合丝作为焊接线材,包括如下步骤:银基键合丝通过线夹进入瓷嘴,并在瓷嘴末端露出部分银基键合丝,瓷嘴移动到芯片焊盘上方位置,线夹打开,瓷嘴垂直落下,与芯片焊盘接触,完成一焊焊接;线弧,线夹关闭,瓷嘴往上抬起,银基键合丝被拉起到设定的高度后,从最高点移动到基材第二个焊点的位置;瓷嘴垂直向下移动,与基材焊盘接触,完成二焊焊接。本发明采用热超声键合的方式,利用银基键合丝将芯片和基材上的引线键合,相对于金丝键合,具有更好的工艺兼容性,且能够极大的节约成本,并具有高的光反射率和更低的电阻。

著录项

  • 公开/公告号CN111106021A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆四联光电科技有限公司;

    申请/专利号CN201911392886.8

  • 发明设计人 乜辉;刘堂军;高山;

    申请日2019-12-30

  • 分类号

  • 代理机构上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人尹丽云

  • 地址 400707 重庆市北碚区蔡家岗同熙路99号

  • 入库时间 2023-12-17 08:13:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/60 申请日:20191230

    实质审查的生效

  • 2020-05-05

    公开

    公开

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