机译:PECVD SINX沉积工艺参数对SINX / ALGAN / GAN结构电性能的影响
机译:温度和界面层对Al /(CDS-PVA)/ P-Si(MPS)结构的电气和介电性能的影响
机译:电子束感应电流低温识别Al / SiO / sub 2 // Si电容器结构中的界面缺陷和块体缺陷
机译:PECVD置换的SINX化学与电性能的相关性。对RF MEMS器件的影响
机译:4H碳化硅散装晶体,外延层和功率装置的缺陷结构分析
机译:不同涂层厚度的模-耳界面传热特性:旋流焓平衡装置过程中对料温度和微观结构的影响
机译:快速热退火的SINX的电性能:H / SI结构,其特征在于电容 - 电压和表面光电谱