机译:CMOS器件中的负偏置温度不稳定性
机译:漏极偏置为28 nm的高K金属栅极p-MOSFET器件对负偏置温度不稳定性下降的新见解
机译:纳米级PMOS器件中源/漏偏置引起的异常负偏置温度不稳定性下降
机译:CMOS器件中负偏压温度不稳定性的机理:氮的降解,恢复和影响
机译:SiGe PMOS器件上的总电离剂量辐射效应和负偏置温度不稳定性
机译:用于气体传感设备的CMOS集成微热板的原位温度测量
机译:先进CMOS裸片亚亚MOS晶体管负偏压温度不稳定性(NBTI)的退化现象研究。