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环形振荡器; 应力; 数字电路; 可靠性; NBTI退化; 负偏压温度; 不稳定性;
机译:负偏置温度不稳定性对数字电路可靠性的影响
机译:自热p沟道金属氧化物半导体场效应晶体管,用于负偏压温度不稳定性的可靠性监测
机译:硝酸补偿的氧化铝电介质,具有改善的负偏压可靠性和正偏压温度响应
机译:杰出论文奖-负偏置温度不稳定性对数字电路可靠性的影响
机译:具有氧氮化物栅极电介质的p + -poly PMOSFET中的热孔退化和负偏压温度不稳定性(NBTI)增强。
机译:国际胃肠道肿瘤学会第十一届年会论文集和摘要
机译:p-MOSFET中负偏压温度不稳定性的产生和恢复的物理机制和栅极绝缘体材料依赖性
机译:空间电子可靠性的基本问题。负偏压温度不稳定
机译:用于加速负偏压温度不稳定性(NBTI)和/或正偏压温度不稳定性(PBTI)恢复的功率午睡技术
机译:加速负偏压温度不稳定性(NBTI)和/或正偏压温度不稳定性(PBTI)恢复的功率抑制技术
机译:降低负偏压温度不稳定性
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