BIPOLAR TRANSISTORS; BIPOLARITY; CMOS; DEFECTS; GATES (CIRCUITS); JUNCTION TRANSISTORS; CHIPS (ELECTRONICS); MICROPROCESSORS; TTL INTEGRATED CIRCUITS;
机译:单BJT和双BJT BiCMOS逻辑门中的故障表现
机译:1.1 V全摆幅双自举BiCMOS逻辑门
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机译:错误的单个BJT BiCMOS逻辑门的行为
机译:双门单电子晶体管:逻辑架构的建模,设计和评估。
机译:基于CDTE量子点和罗丹明B的双发射荧光探针用于视觉检测汞及其逻辑栅极行为
机译:通过晶体管重新排序降低动态BiCmOs逻辑门中的功耗