机译:-SI 3N 4薄晶体结构的局部对称性断开,如球面像差校正的高分辨率透射电子显微镜图像透露
Department of Physics Kyungsung University Busan 608-736 South Korea;
Materials Science Electron Microscopy Ulm University 89060 Ulm Germany Erich Schmid Institute;
Materials Science Electron Microscopy Ulm University 89060 Ulm Germany;
atomic-resolution transmission electron microscopy; exit-wave reconstruction; microstructure; silicon nitride;
机译:球面像差校正的高分辨率透射电子显微镜图像显示-Si 3N 4的薄晶体结构的局部对称断裂
机译:-SI 3N 4薄晶体结构的局部对称性断开,如球面像差校正的高分辨率透射电子显微镜图像透露
机译:球差校正高分辨率透射电子显微镜图像显示的β-Si 3 sub> N 4 sub>薄晶体结构的局部对称断裂
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