Cornell University.;
Atomic resolution; Electron microscopy; Energy materials; Hexagonal manganites; In situ;
机译:通过像差校正透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜和电子能量损失谱分析了对Si(001)上高k氧化镧薄膜的退火效应
机译:通过像差校正的扫描透射电子显微镜对材料的新见解
机译:通过像差校正的扫描透射电子显微镜观察材料的新观点
机译:通过像差校正扫描透射电子显微镜通过校正扫描扫描晶体晶界偏析和元素位点位置的原子水平表征
机译:电子材料中结构-性质关系的原位分析扫描和透射电子显微镜研究
机译:扫描电子显微镜与透射电子显微镜进行材料特征:高强度钢的比较研究
机译:通过像差校正扫描透射电子显微镜进行Movtenb氧化物的原位和原位分析