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Properties of low-dimensional electron-beam-sensitive objects by spherical and chromatic aberration-corrected low-voltage high-resolution transmission electron microscopy and spectroscopy

机译:球形和色差校正低压高分辨率透射电子显微镜和光谱法测量低维电子射线敏感物体的性能

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著录项

  • 作者

    Ute Kaiser;

  • 作者单位
  • 年度 2016
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种
  • 中图分类
  • 入库时间 2022-08-20 22:12:11

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