机译:通过氢气蚀刻3C-SiC(111)薄膜在Si(111)上的高质量外延石墨烯
Univ Roma La Sapienza Dipartimento Fis Piazzale Aldo Moro 2 I-00185 Rome Italy;
Queensland Univ Technol Sch Chem Phys &
Mech Engn 2 George St Brisbane Qld 4001 Australia;
Univ Roma La Sapienza Dipartimento Fis Piazzale Aldo Moro 2 I-00185 Rome Italy;
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Mech Engn 2 George St Brisbane Qld 4001 Australia;
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graphene; SiC; epitaxial growth; thin film; STM; XPS; Raman;
机译:通过氢气蚀刻3C-SiC(111)薄膜在Si(111)上的高质量外延石墨烯
机译:使用3C-SiC(111)/ Si的表面终止作用控制硅上外延石墨烯的结构和电子性质
机译:通过SiH_4预处理改善SiC(111)/ Si(111)上外延石墨烯的薄膜质量
机译:Si(110)衬底上的3C-SiC(111)的高速旋转外延在硅上合格的外延石墨烯
机译:氢封端的硅(111)和外延生长的石墨烯基板上功能有机物的表征和纳米图案化。
机译:Si(111)衬底和3C-SiC(111)外延层之间的错位界面的异常性质
机译:3C-SiC(111)Si和C面上外延石墨烯的厚度和电子性能的大面积微焦点椭圆偏光光谱图