机译:使用高分辨率X射线摇摆曲线测量精确确定单晶晶片的表面取向
high-resolution X-ray diffraction; miscut angles; misorientation; rocking curve peak positions; surface orientation;
机译:使用高分辨率X射线摇摆曲线测量精确确定单晶晶片的表面取向
机译:原子力显微镜的力曲线测量:在嫁接硅晶圆表面能的现场测定中的应用
机译:通过X射线光电子能谱准确测定表面法线,以可靠地测量超薄SiO_(2)厚度
机译:通过双晶X射线摇摆曲线和峰值位置图测量的SiC晶片中的马赛克和晶片弯曲
机译:现代线锯制造中的高分辨率晶圆表面拓扑测量和振动分析。
机译:用于表面精加工和电性能的单晶硅晶片激光研磨
机译:用双晶体技术测量掺铜硅晶片本征摇摆曲线半峰的X射线
机译:在高X射线能量下测量摇摆曲线翼。