机译:高速搭接剪切试验评估Sn-37Pb焊点的机械可靠性
School of Advanced Materials Science and Engineering, Sungkyunkwan University, 300 Cheoncheon-dong, Jangan-Cu, Suwon 440-736, South Korea;
crop test; Sn-37Pb; lap-shear test; fracture morphology;
机译:使用高速搭接剪切试验评估Sn-37Pb焊料/ Cu接头的跌落可靠性
机译:等温和温度循环条件下(Au,Ni)Sn $ _ {4} $演变对Sn-37Pb / ENIG焊点可靠性的影响
机译:Sn-37Pb和Sn-8Zn-3Bi焊料对界面反应层对芯片级封装接头可靠性的影响
机译:SN-37PB / Cu和Sn-37Pb / Enig焊点采用高速膝盖剪切试验机械可靠性评价
机译:倒装芯片技术中焊点的可靠性:润湿,界面反应,机械剪切测试和电迁移等基础研究的方法。
机译:随机空隙的产生以及热冲击载荷对发光二极管倒装芯片焊点机械可靠性的影响
机译:界面金属间聚生长对极端温度热冲击下SN-37PB焊点力学性能的影响