机译:尺寸量化和温度对薄膜双栅极金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)阈值电压的影响分析
Centre for NanoScience and Engineering, Department of Electrical Communication Engineering,Indian Institute of Science, Bangalore 560012, India;
Centre for NanoScience and Engineering, Department of Electrical Communication Engineering,Indian Institute of Science, Bangalore 560012, India;
Centre for NanoScience and Engineering, Department of Electrical Communication Engineering,Indian Institute of Science, Bangalore 560012, India;
机译:尺寸量化和温度对薄膜双栅极金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)阈值电压的影响分析
机译:超薄硅双栅金属氧化物半导体场效应晶体管尺寸量化下的阈值电压建模
机译:绝缘硅上金属氧化物半导体场效应晶体管阈值电压的背栅电压依赖性分析及其在Si单电子晶体管中的应用
机译:低温多晶硅薄膜晶体管的阈值电压
机译:用于低压集成电路应用的双栅CMOS设计和分析,包括绝缘体上硅MOSFET的物理建模。
机译:有机物中嵌入的氧化铜的机理分析阈值电压可控的薄膜晶体管
机译:在低温下在缩放的硅互补金属氧化物半导体场效应晶体管中单载流子捕获和去陷阱
机译:功率金属氧化物半导体场效应晶体管(mOsFET)的单粒子效应(sEE)