机译:温度和电流应力对Cu柱/Sn-3.5Ag微凸点金属间化合物生长特性的影响
School of Materials Science and Engineering, Andong National University, Andong, Gyeongbuk 760-749, Korea;
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机译:金属间化合物的生长特性对3-D堆叠式IC封装的Cu柱/Sn-3.5Ag Mcrobump抗剪强度的影响
机译:细间距Sn-3.5Ag / Ni / Cu微凸块中金属间化合物的研究和空隙的生长
机译:Cu-Sn金属间化合物反应对Cu / Sn / Cu微凸块中Kirkendall空隙生长特性的影响
机译:在退火和电流应力期间Cu柱凸块的金属间化合物和Kirkendall void生长
机译:用于3D-IC包装的微型凸点中多孔Cu3Sn金属间化合物的形成机理
机译:温度梯度下Cu / Sn / Cu互连中液-固界面处Cu6Sn5金属间化合物的生长动力学
机译:低凸点焊点高温高应力下多孔Cu3sn金属间化合物的形成机理