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Noise performance of low power 0.25 micron gate ion implanted D-mode GaAs MESFET for wireless applications

机译:用于无线应用的低功率0.25微米栅离子注入D模式GaAs MESFET的噪声性能

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摘要

We report on the noise performance of low power 0.25 /spl mu/m gate ion implanted D-mode GaAs MESFETs suitable for wireless personal communication applications. The 0.25 /spl mu/m/spl times/200 /spl mu/m D-mode MESFET has a f/sub t/ of 18 GHz and f/sub max/ of 33 GHz at a power level of 1 mW (power density of 5 mW/mm). The noise characteristics at 4 GHz for the D-mode MESFET are F/sub min/=0.65 dB and G/sub assoc/=13 dB at 1 mW. These results demonstrate that the GaAs D-mode MESFET is also an excellent choice for low power personal communication applications.
机译:我们报告了适用于无线个人通信应用的低功率0.25 / spl mu / m栅极离子注入D模式GaAs MESFET的噪声性能。 0.25 / spl mu / m / spl次/ 200 / spl mu / m D模式MESFET的f / sub t /为18 GHz,f / sub max /为33 GHz,功率水平为1 mW(功率密度为5 mW / mm)。 D模式MESFET在4 GHz时的噪声特性在1 mW时为F / sub min / = 0.65 dB,G / sub assoc / = 13 dB。这些结果表明,GaAs D模式MESFET还是低功耗个人通信应用的绝佳选择。

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