机译:HfAlO电荷陷阱层中具有最佳Al掺杂的新型SONOS型非易失性存储设备
Atomic layer deposition (ALD); Flash; HfAlO; charge trapping; nonvolatile memory; polysilicon–oxide–nitride–oxide–silicon (SONOS)-type;
机译:SONOS型非易失性存储器中HfGdO电荷俘获层的双溅射工艺灵敏度
机译:以Dy掺杂的HfO_2作为电荷陷阱层和Al_2O_3作为阻挡层的改进的电荷陷阱非易失性存储器
机译:具有$ hbox {Si} _ {3} hbox {N} _ {{4} / hbox {Al} _ {2} hbox {O} _ {{3} / hbox {HfO} _)的电荷陷阱非易失性存储设备中的增强操作{2} $电荷陷阱层
机译:在HfAlO电荷陷阱层中具有合适的带偏移的新型SONOS型非易失性存储设备
机译:SONOS非易失性存储设备中的均匀和局部电荷陷阱。
机译:用原位掺杂多晶硅纳米线构建的无结SONOS非易失性存储设备
机译:Nb掺杂的Gd2O3作为电荷俘获层用于非易失性存储器应用