首页> 外文期刊>IEEE transactions on circuits and systems. II, Express briefs >A Multi-Mode Power Gating Structure for Low-Voltage Deep-Submicron CMOS ICs
【24h】

A Multi-Mode Power Gating Structure for Low-Voltage Deep-Submicron CMOS ICs

机译:低压深亚微米CMOS IC的多模式电源门控结构

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

Most existing power gating structures provide only one power-saving mode. We propose a novel power gating structure that supports both a cutoff mode and an intermediate power-saving and data-retaining mode. Experiments with test structures fabricated in 0.13-mum CMOS bulk technology show that our power gating structure yields an expanded design space with more power-performance tradeoff alternatives.
机译:大多数现有的电源门控结构仅提供一种节能模式。我们提出了一种新颖的电源门控结构,该结构既支持截止模式又支持中间节电和数据保留模式。用0.13微米CMOS批量技术制造的测试结构的实验表明,我们的电源门控结构可提供更大的设计空间,并提供更多的电源性能折衷方案。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号