机译:减轻空间应用中基于SRAM的FPGA中的辐射效应
Univ Leicester, Embedded Syst Grp, Leicester LE1 7RH, Leics, England;
Univ Leicester, Embedded Syst Grp, Leicester LE1 7RH, Leics, England;
ESA ESTEC, Noordwijk, Netherlands;
Airbus Def & Space, Stevenage, Herts, England;
Design; Reliability; Dynamic partial reconfiguration; fault injection; FPGA; hot redundancy; information redundancy; radiation effects; scrubbing; single event upsets; spatial redundancy; triplemodular redundancy;
机译:空间环境中基于SRAM的FPGA的故障分类以减轻故障
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