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朱辉; 胡冰; 吕倩; 刘鸿瑾;
中国航天标准化与产品保证研究院,北京100071;
北京控制工程研究所,北京100190;
FPGA; 空间辐射; 故障模式; 可靠性;
机译:NanoXplore辐射硬化的基于SRAM的FPGA的动态重离子SEE测试:可靠性-性能分析
机译:CERN混合场辐射环境下深亚微米基于SRAM的FPGA的辐射效应
机译:基于SRAM的FPGA设计对单位和多小区扰乱的分析可靠性估计
机译:暴露于电离辐射下的基于SRAM的FPGA的I / O块可靠性
机译:低功耗和工艺变化感知型SRAM和Cache在SRAM电路,架构和组织中的设计容错能力。
机译:使用基于SRAM的FPGA进行功率感知的高性能无线传感器网络
机译:基于SRAM的FPGA的基于BER的高效可靠性方法
机译:室温下单粒子对空间辐射强化64K sRams的影响
机译:当不使用FPGA时,FPGA的SRAM关断电路可以节省功耗
机译:FPGA和使用FPGA的高可靠性系统
机译:微波干燥器可将辐射源直接耦合到扁平的金字塔形散热器中,以有效地干燥大面积区域,以应对建筑物洪水后的潮湿和侵扰
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