机译:基于SRAM的FPGA设计对单位和多小区扰乱的分析可靠性估计
Univ Isfahan Fac Comp Engn Esfahan Iran;
Univ Complutense Madrid Comp Architecture Dept Madrid 28040 Spain;
Univ Complutense Madrid UCM Fac Ciencias Fis Dept Struct Matter Thermal Phys & Elect Madrid Spain|Univ Complutense Madrid UCM Fac Ciencias Fis Inst Particle & Cosmos Phys IPARCOS Madrid Spain;
Reliability model; Multiple cell upsets; Soft errors; Hardware tasks; FPGA-based designs;
机译:分析软错误下基于SRAM的FPGA中基于HLS的设计的可靠性和性能折衷
机译:在基于SRAM的FPGA上实现可靠性感知系统的新颖设计方法
机译:在超应答互动点处监控基于SRAM的FPGA的单个事件UPSET
机译:一种位交错的嵌入式汉明方案,可纠正基于SRAM的FPGA的单位和多位翻转
机译:基于SRAM的FPGA中实现的软核处理器的硬件和软件容错
机译:FPGA在8×8和2×2 OFDM–MIMO信道估计中实现的测试平台以及基带收发器的设计
机译:关于基于sRam的FpGa设计的可靠性评估†